Inspiring Optics

High-tech optical solutions for industry and scientific markets.

Advanced. Integrated. Essential. Insoptics provides indispensable measurement and inspection for next-generation vacuum coating and semiconductor fabrication. Optimize your material deposition and wafer quality for ultimate efficiency.

Optical monitoring

Наши оптические системы мониторинга обеспечивают высокоточный контроль процессов напыления в вакуумных установках. Технология основана на оптическом мониторинге, наиболее передовом инструменте для управления осаждением интерференционных покрытий. Программное обеспечение Insoptics поддерживает монохроматоры, спектрометры и спектрографы, что позволяет реализовать любую стратегию мониторинга для требуемых покрытий. Множество доступных стратегий мониторинга в сочетании с продвинутыми алгоритмами расчета обеспечивают автоматическое определение конечной точки напыления по данным интенсивности оптического сигнала, существенно повышая выход продукции и процессную толерантность. Интегрированный оптический программный движок позволяет выполнять оптимизацию наносимого покрытия в процессе (in situ). ПО Insoptics разработано для бесшовной интеграции с любым типом напылительного оборудования — от пакетных до поточных систем, предоставляя максимальную гибкость для оптических применений.

Read More
Innovation Hub

Plasma monitoring

Наши решения обеспечивают измерение спектра плазмы для полного определения состава частиц в реальном времени. Этот чувствительный метод позволяет детектировать минимальные изменения в процессе, что критически важно для снижения брака, оптимизации расхода материалов и повышения стабильности производства. Высококачественные вакуумные компоненты обеспечивают надежную и стабильную работу системы в самых требовательных условиях, интегрируясь в широкий спектр применений от R&D до промышленных линий. Интеллектуальное программное обеспечение распознает динамические условия процесса, автоматически идентифицируя ключевые события, такие как детектирование конечной точки или условия утечки. Это гарантирует точный контроль и оптимизацию производственных параметров.

Read More
Research Excellence

Wafer scan

Wafer Scan — это система высокоточной инспекции поверхности полупроводниковых пластин, разработанная для оперативного выявления дефектов. Наша технология обеспечивает исключительную скорость сканирования: пластина диаметром 150 мм обрабатывается за 10 секунд, что критически важно для высокопроизводственных линий. Система использует передовые оптические и лазерные методы для детектирования микродефектов: частиц, царапин, а также отклонений паттерна и топографии слоев. Целью является раннее выявление дефектов, что предотвращает их влияние на последующие этапы и максимизирует выход годных изделий (yield). Неразрушающий и бесконтактный контроль гарантирует сохранение целостности пластины и соответствие строгим производственным стандартам.

Read More
Sustainable Future
Column 1 Image

Newsletter

Будьте в курсе наших новостей и эксклюзивных материалов.

Read More
Column 2 Image

Consulting

Полная поддержка во внедрении технологий с гарантией конфиденциальности данных.

Read More
Column 3 Image

About Insoptics

История Insoptics: инновации и развитие в области мониторинга и напыления

Read More
Exhibition Logo 1 Forum Logo 1 Exhibition Logo 2 Exhibition Logo 1 Forum Logo 1 Exhibition Logo 2

Contact Us

Address: 28 Czerwca 1956 r. 223/229, Poznań, Poland

Phone: +48 123 456 789

Email: info@insoptics.com